IEC 62321是國際電工委員會(IEC)制定的關于電子電氣產品中限用有害物質的測試方法。IEC 62321：2008是一個‘獨立’的標準，其中包括介紹、測試方法、機械制樣的概述、以及各種測試方法的條款。2013年5月17號開始將IEC 62321：2008拆分為一系列標準，同時導入新的測試方法或儀器，詳情如下。
已更新系列標準
2013年
nIEC 62321-1 簡介和概述
文件說明：替代2008版標準一至四章節(jié)
主要變化：基本一致
nIEC 62321-2 樣品的拆卸、拆解和機械拆分
文件說明：替代2008版標準第五章節(jié)
主要變化：基本一致
nIEC 62321-3-1 電子產品中的鉛、汞、鎘、總鉻和總溴的篩選
文件說明：替代2008版標準第六章節(jié)
主要變化：基本一致
nIEC 62321-3-2 使用C-IC對聚合物和電子產品中的總溴進行篩選
文件說明：新增章節(jié)
主要變化：2013版增加了新的方法（C-IC）
nIEC 62321-4 使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS測定聚合物、金屬和電子材料中的汞
文件說明：替代2008版標準第七章節(jié)并新增內容
主要變化：2013版增加了新的方法（熱解析金汞齊化系統(tǒng)）
nIEC 62321-5 使用AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS測定聚合物和電子材料中的汞、鎘、鉛和鉻，以及金屬中的鎘和鉛
文件說明：替代2008版標準八至十章節(jié)并新增內容
主要變化：2013版增加了總鉻的測試要求及新的檢測方法（AFS）
2015年
nIEC 62321-6 使用GC-MS、IAMS和HPLC測定聚合物和電子材料中的多溴聯(lián)苯 和多溴二苯醚
文件說明：替代2008版標準附錄A并新增內容
主要變化：2015版增加了新的檢測方法（IAMS/HPLC）
nIEC 62321-7-1 通過比色法測定金屬無色和有色防腐鍍層中六價鉻
文件說明：替代2008版標準附錄B
主要變化：關于六價鉻的前處理及上機測試部分未做改動，對結果的陰性陽性判定基準改為小于0.1g/cm2陰性、大于0.13g/cm2陽性、0.1g/cm2~0.13g/cm2不確定
待發(fā)布系列標準
2016年
nIEC 62321-4 am1 1.0
使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS測定聚合物、金屬和電子材料中的汞
nIEC 62321-8 1.0
通過GC-MS測定高分子材料中的特定鄰苯二甲酸鹽
2017年
nIEC 62321-7-2 1.0
通過比色法測定聚合物和電子材料中的六價鉻
nIEC 62321-9 1.0
通過HPLC-MS測定高分子材料中的六溴環(huán)十二烷
2018年
nIEC 62321-3-2 2.0
使用C-IC對聚合物和電子產品中的氟、溴、氯進行篩選
nIEC 62321-3-3 1.0
使用PY-GC-MS、TD-GC-MS對聚合物中的多溴聯(lián)苯、多溴二苯醚、特定鄰苯二甲酸鹽進行篩選
nIEC 62321-10 1.0
通過GC-MS測定聚合物和電子材料中的多環(huán)芳烴
注: C-IC 燃燒離子色譜法
PY-GC-MS 熱裂解氣相色譜質譜聯(lián)用儀
IAMS 離子附著質譜法
TD-GC-MS 熱脫附氣相色譜質譜聯(lián)用儀
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