? 雷射光阻值變化偵測(OBIRCH)
雷射光阻值變化偵測(OBIRCH)服務是一種先進的非接觸式檢測技術(shù),它通過精確控制激光束在半導體器件或集成電路上的照射,以誘發(fā)器件內(nèi)部的溫度變化,并進而觀測因溫度變化而導致的電阻值變化。這種技術(shù)能夠?qū)崿F(xiàn)對電路內(nèi)部細微結(jié)構(gòu)故障的快速、精準定位,為集成電路的質(zhì)量控制和故障分析提供有力支持。
我們的OBIRCH服務具備高靈敏度、高精度和多功能應用的特點。通過精確控制激光束的功率和照射位置,我們能夠檢測到微小的阻值變化,從而發(fā)現(xiàn)電路中的潛在問題。此外,OBIRCH技術(shù)還能夠適用于不同類型的集成電路和芯片檢測,滿足不同客戶的多樣化需求。
? 應用場景
? 服務優(yōu)勢
? 服務流程